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研發(fā)測試及試驗中心建設項目環(huán)境影響評價信息公示
發(fā)布日期:2022-12-02

根據(jù)《中華人民共和國環(huán)境保護法》、《中華人民共和國環(huán)境影響評價法》以及《建設項目環(huán)境影響評價信息公開機制方案》(環(huán)發(fā)[2015]162號),受建設單位委托,由廣東華博士環(huán)??萍加邢薰境袚邪l(fā)測試及試驗中心建設項目環(huán)境影響評價工作,并進行公示。

 

1.項目名稱:研發(fā)測試及試驗中心建設項目

2.建設地點:珠海市高新區(qū)金鼎工業(yè)片區(qū)金環(huán)路以北、金園二路西側(cè)自建廠房(珠海高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū))

3.建設單位:珠海市威兆半導體有限公司

4.委托時間:2022年12月2日

5.項目概況:

珠海市威兆半導體有限公司投資19654.94萬元于珠海市高新區(qū)金鼎工業(yè)片區(qū)金環(huán)路以北、金園二路西側(cè)自建廠房(珠海高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū))建設研發(fā)測試及試驗中心建設項目(以下簡稱項目”),建設內(nèi)容主要是集成電路芯片的設計及優(yōu)化,通過不同類型實驗設備測試驗證芯片設計方案的可行性。年研發(fā)MOSFET、IGBT、SiCMOS三類芯片合計共10000顆。